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                地质

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                电感耦合等离子体质谱仪

                型号:ICP-MS 2000系列
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                产品说明、技术∴参数及配置

                电感耦合等离子体质谱仪 (简称ICP-MS),是20世纪80年代发展起来的一种新的微量(10-6)、痕量(10-9)和超痕量(10-12)元素分╱析技术。ICP-MS可测定元素周期表中大部分元素,且具有极低的检出限、极宽的动态线性范围、谱线简单、干扰少、精密度高、分析速度快等性能优势。
                ICP-MS2000系列是天瑞自主研发产品,目前有ICP-MS2000B、ICP-MS2000E两款型号。ICP-MS2000系列仪器各项性能均优于国家规范,完全@ 满足不同行业用户应用需求,性价比高;目前该产品主要应用于环境、食品、半导体、医药及生理分析、核工业领域等。
                ICP-MS2000系〓列具有卓越的仪器性能,高效的分析效果。仪器日常运行消耗器材均自主研发,性价比高。同时我们提供优质≡售后服务,10分钟响应、48小时内上门服务、客服中心随时跟踪服务、保证服务质量。
                1.ICP-MS 2000B性能特点
                稳健的固态电源保证仪器可运行多种模式(如常︼规模式、冷等离子体模式),并且在同一方法中允许运行多种模式,节约大量▂分析时间及方便研究。
                先进的等离子体屏【蔽技术,极大提高↑仪器的灵敏度,改善低质量元素的检出限。保证冷等离子体模式等应用,无需使用碰撞々/反应气,即可使K、Na、Ca、Mg、Fe等易电离元素检◤出限低至ng.L-1。
                2.ICP-MS 2000E性能特点
                变频等离子体,采用推挽互补技术消除传统等离子体中存在的电势差,消除等离子体二次放电现象,并产生较低、较窄的离子能量扩散,极大提高仪器灵敏度。稳健的变ㄨ频电源系统保证仪器可运行多种模式(如常▲规模式、碰撞反应模式、冷等离子体模式),并且在同一方法中允许运行多种模式,节约大量分析时间及方便研究。
                配置六极杆碰撞反应池,采用(H2+He)混合气既可以KED模式消除ArCl、CaCl对As的干扰;同时在无需切换气体等繁琐操作的情况下即可消▃除Ar、ArH、ArO等对K、Ca、Fe的干扰。
                配置250位全自动进样器,以太通信进口,定位精度小于500μm。
                ICP-2000系列电卐感耦合等离子体质谱仪同样均具有以々下优异的性能及特点:
                等离子体位置XYZ三维由计算机控制全自动精确调节,调节幅度精确至步进0.1mm;
                炬管为一体式石英同心炬管,避免拆卸式矩管的繁琐操作以及可能由此导致的损坏;
                敞开式进样系统结构,插入式安装,自我定位,维护方便;
                高稳定性和精密度的带撞击球玻璃雾化室,雾化室标配半导体制冷,对雾化室制冷←控温范围为-20℃-20℃,制冷迅速可在三分钟内由室温降至2℃,以适应不同基体的控温要求;
                接口室由采样锥、截∩取锥两部分组成。标准配置包№含采样锥(锥孔1.1mm),和具有优秀耐盐性能的截取锥(锥孔0.75mm);另可根据用户实际需求选配高灵敏度截取锥;
                独特↓的活动接口门结构,无需泄真空即可装卸采样锥☆和截取锥,维护方便;
                配置高效率六极杆离子导向系统,在全质量范围内获得最佳的离子传√输效率;由计算机控制全自动离子聚焦调谐过程。真空♀室内的透镜采用非对称安装,方便拆装定位;
                离子透镜包括提取透镜和偏转透镜,采用二次离轴★设计,避免中性粒子和电子进入质量分析器,降低背景;离子透镜、六级杆和四级杆均为免拆洗维护设计,极大地减少维护工作量;
                使用进口、超长的纯钼四级杆,为仪器提供极佳的灵敏〓度及分辨率;
                长寿命ETP双模式检测器,分成两部分分列打拿极电子倍增器,由计算机控制自动进行数/模切换;
                友好的人机交互界面,符合国人使用习惯的全中文软件。提供自动控制仪器及其附件的能△力,完美适应Windows 2000/XP/vista/win7(32位或64位)专业操作系统;
                全自动分析功能(启动关闭仪器,炬位调整,等离∑ 子体参数,离子透镜参数⊙,检测器参数等)。

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